Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste de materiales.

• Obtención de imágenes de nanomateriales de alta resolución con la fuente de electrones monocromática UC+ para un rendimiento subnanométrico de 1-30 kV.
• Alto contraste en materiales sensibles con un excelente rendimiento hasta 20 eV de energía de aterrizaje y detectores de alta sensibilidad in-column y  below-the-lens, con filtrado de señal para un funcionamiento con dosis bajas y una selección óptima del contraste.
• Flexibilidad para accesorios con una cámara de gran tamaño.
• Tiempo de obtención de información a nanoescala muy reducido para usuarios con cualquier nivel de experiencia gracias a la columna de electrones Elstar con tecnologías SmartAlign y FLASH.
• Resultados de medición consistentes con lentes ConstantPower.