La Microscopía Electrónica de Barrido (SEM) utiliza un haz de electrones en lugar de luz visible (fotones) para examinar muestras. El principio fundamental del SEM radica en que un haz de electrones altamente enfocado escanea o barre la superficie del espécimen. Esta interacción genera diversas señales, como electrones secundarios (SE), que proporcionan información sobre la topografía, y electrones retrodispersados (BSE), que revelan detalles composicionales.

Ventajas Clave de la Tecnología SEM

• Ciencia de Materiales e Ingeniería
• Análisis de Fallas (Failure Analysis)
• Control de Calidad Industrial
• Industria de Semiconductores
• Facilidad de Uso y Velocidad
• Automatización Avanzada
• Manejo de Muestras Complejas

El SEM es la herramienta fundamental cuando se requiere comprender las propiedades físicas y químicas de los materiales a una escala microscópica o nanométrica.