Análisis TEM y STEM para caracterización química de alto rendimiento y alta resolución y observaciones dinámicas.

El Talos F200i (S)TEM es un microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo (barrido) de 20-200 kV diseñado exclusivamente para el rendimiento y la productividad en una amplia gama de muestras y aplicaciones de Ciencia de Materiales. Su separación entre polos estándar X-Twin, que ofrece la máxima flexibilidad en las aplicaciones, combinada con una columna de electrones de rendimiento reproducible, abre oportunidades para la caracterización 2D y 3D de alta resolución, observaciones dinámicas in situ y aplicaciones de difracción.