La Microscopía Electrónica de Transmisión (TEM) es una técnica esencial de caracterización que ha sido fundamental en la ciencia de materiales, la química, la física y la medicina. El TEM utiliza un haz de electrones de alta energía que atraviesa una muestra extremadamente delgada (con un espesor inferior a 100 nm); la interacción de este haz con los átomos de la muestra (dispersión) genera diversas señales que son recogidas por detectores, lo que permite la formación de una imagen detallada de la estructura interna del material.

El principal distintivo del TEM es su resolución espacial inigualable. 

• Resolución Extrema: permite resoluciones de hasta 0.1 nm. Esta capacidad posibilita la visualización de la disposición de los átomos en el espacio.

• Información Completa: se obtiene información detallada sobre la morfología, composición química y estructura cristalográfica, incluyendo el análisis de defectos estructurales, límites de grano e interfaces.

La capacidad del TEM para analizar estructuras a escala atómica lo convierte en una herramienta crucial en múltiples sectores:

• Nanotecnología y Ciencia de Materiales

• Industria de Semiconductores y Electrónica

• Biología Estructural y Farmacéutica

• Análisis Dinámico (In Situ TEM)