Equipo SEM de alto rendimiento para imágenes y análisis elemental para un análisis detallado de las estructuras en las muestras y de la distribución de elementos.
Espectrómetro de energía dispersiva de rayos X integrado
Funciona mediante electrones de alto voltaje que generan rayos x que permiten la identificación elemental.
Detector de deriva de silicio enfriado por Peltier.
Resultados rápidos:
- Análisis EDS en menos de 1 minuto.
- Amplio rango de elementos: Boro a Americio.
- Una interfaz de usuario armonizada.