La técnica de microscopía electrónica aprovecha la interacción entre un haz de electrones focalizado y los átomos que componen la muestra para generar imágenes de alta calidad y gran aumento focal con capacidad de alcance hasta un nivel atómico. Esta técnica de caracterización se ha convertido en una herramienta fundamental en numerosos campos de la industria y la investigación, que van desde la ciencia de los materiales hasta la ciencia forense, la fabricación industrial e, incluso, las ciencias de la vida.
Microscopía Electrónica de Barrido
Microscopía electrónica de barrido (SEM)
SEM utiliza una tensión de aceleración del haz < 30kV que puede reflejarse (retrodispersión) o generar nuevos electrones (electrones secundarios) que son colectados por el detector para obtener una imagen.
Microscopía electrónica de doble haz (Dual Beam)
La tecnología de doble haz, iones y electrones (FIB SEM), permite un análisis estructural automatizado, preparación de muestras de TEM y creación de nanoprototipos, caracterización 3D completa y precisa, así como detección de imágenes simultáneas.
Microscopía electrónica de transmisión (TEM)
Utiliza alto voltaje de aceleración (> 30kV) para generar un haz de electrones que atraviesa muestras muy finas (~50 nm), generando señales que son detectadas en la parte inferior del microscopio. Esta configuración del equipo, en conjunto con adecuados requisitos de preparación, proporciona la mayor resolución (escala atómica) alcanzada por un microscopio electrónico.
Mesa
Phenom™ Pharos G2
Microscopio con una fuente FEG que hace que las imágenes sean nítidas y de alto brillo
Software automatizado Phenom ProSuite para brindar soluciones específicas al mercado. Desarrollado para permitir a los usuarios de Phenom extraer la máxima información de las imágenes creadas.
ProSuite
- Colección automatizada de imágenes
- Control remoto en tiempo real
- Interfaz de usuario intuitiva
- Aplicaciones estándar incluidas: asignación automática de imágenes e interfaz de usuario remota
PoreMetric
- Visualización y análisis completamente automatizados de poros
- Detección de tamaño de poro de 100nm – 0.1nm
- Determinación de datos estadísticos con imágenes de alta calidad
Reconstrucción de rugosidad 3D
- Interfaz de usuario intuitiva, máxima funcionalidad
- Basado en la tecnología de “sombreado de forma”
- Reconstrucción rápida
FiberMetric
- Recolección rápida y automatizada de todos los datos estadísticos
- Medición de una gran variedad de fibras y poros
- Permite ver y medir de forma inigualable micro y nano fibras
Identificación de Elementos (EID)
- Software completamente integrado para análisis de rayos X
- Análisis preciso de identificación de elementos
- Opcional: software elemental mapping y line scan
Piso
Prisma™ E SEM
Un SEM para laboratorios multiusuario que requieren un rendimiento completo y facilidad de uso
Quattro™ E SEM
SEM ultra versátil de alta resolución que combina un rendimiento completo de imágenes y análisis con un modo ambiental
Talos™ L120C
Microscopio electrónico de transmisión termoiónica (escaneo) de 20-120kV
Talos™ F200i S
Microscopio electrónico de transmisión de emisión de campo (escaneo) de 20-200kV
Talos™ F200X G2
Microscopio para caracterización TEM y STEM de alta resolución con cuantificación química precisa
