Microscopio con una fuente FEG que hace que las imágenes sean nítidas y de alto brillo

Características

• Rápida obtención de datos e imágenes para muestras grandes o múltiples por ciclo de carga.
• Imágenes 3D y mapeo de alta resolución.
• Mayor resolución para imágenes y análisis.
• Modo de bajo vacío integrado.
• Medición automatizada de tamaño de partícula y poro.