Microscopia electrónica de barrido

Topografía Superficial SEM

Línea versátil y económica de instrumentos de Microscopía Electrónica de Barrido (MEB) de mesa para satisfacer la demanda de la competitiva comunidad científica y crear la experiencia de análisis más gratificante para el usuario.

De forma estándar detector de electrones retrodispersados (BSD) que permite a los usuarios analizar las características topológicas y elementales de la muestra, además de realizar reconstrucción de superficie 3D, así como, determinar tamaño y análisis de fibras.

La línea Phenom World cuenta con tres modelos disponibles, lo que lo hace un instrumento adaptable a los requerimientos de análisis.

Instrumento de equipamiento básico de amplia aplicación e interfaz intuitiva. Con capacidades de:

  • Intervalo de magnificación de 70x – 30,000 x
  • Genera imágenes mayores a 2048 x 2048 pixeles
  • Resolución < 30 nm
  • Aceleración del voltaje 5 kV

Instrumento de mesa de alta resolución equipado con una fuente de electrones CeB6 de larga duración y alto brillo. Con capacidades de:

  • Intervalo de magnificación de 80x – 130,000 x
  • Cámara de navegación totalmente a color, con 20 x – 135 x de magnificación
  • Resolución < 10 nm
  • Aceleración del voltaje 5 y 10 kV
  • Opcional se puede incluir el software de aplicaciones ProSuite.

Lo mejor en la gama para imágenes y análisis de alta

Sistema avanzado para identificación de elementos en muestras, integrado con un detector EDS y software de identificación.

  • Totalmente integrado con análisis de Rayos-X
  • Intervalo de detección de elementos B-Am
  • Intervalo de magnificación 80 x a 130,000 x
  • Resolución <10 nm
  • Voltaje de aceleración 5 kV, 10 kV y 15 kV
  • Software de aplicación ProSuite
  • Opcional software de Mapeo Elemental y barrido en línea.

Software automatizado Phenom ProSuite. para soluciones específicas del mercado Desarrollado para permitir a los usuarios de Phenom extraer la máxima información de las imágenes creadas.

ProSuite

  • Colección automatizada de imágenes
  • Control remoto en tiempo real
  • Interfaz de usuario intuitiva
  • Aplicaciones estándar incluidas: Asignación automática de imágenes e interfaz de usuario remota

PoreMetric:

  • Visualización y análisis completamente automatizados de poros
  • Detección de tamaño de poro de 100 nm – 0.1 nm
  • Determinación de datos estadísticos con imágenes de alta calidad

ParticleMetric

  • Datos de morfología y tamaño de partícula para aplicaciones submicrométricas
  • Detección de partículas de 100 nm a 100 µm
  • Facilidad para exportar datos a histogramas de dispersión.

Reconstrucción de rugosidad 3D

  • Interfaz de usuario intuitiva, máxima funcionalidad
  • Basado en la tecnología de “sombreado de forma”
  • Reconstrucción rápida

FiberMetric:

  • Recolección rápida y automatizada de todos los datos estadísticos
  • Medición de una gran variedad de fibras y poros
  • Permite ver y medir de forma inigualable micro y nano fibras

Identificación de Elementos (EID):

  • Software completamente integrado para análisis de rayos X
  • Análisis preciso de identificación de elementos
  • Opcional: software elemental mapping y line scan. 

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